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簡(jiǎn)要描述:硅片厚度測(cè)量?jī)xSIT-200由精確可調(diào)激光光源,聚焦傳感器,光學(xué)接收器組成。波長(zhǎng)掃描光聚焦照射到目標(biāo)上,由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案,經(jīng)過(guò)聚焦傳感器后由光學(xué)探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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組件類別 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
詳細(xì)介紹
硅片厚度測(cè)量?jī)xSIT-200
硅片厚度測(cè)量?jī)x(SIT-200)由精確可調(diào)激光光源,聚焦傳感器,光學(xué)接收器組成。波長(zhǎng)掃描光聚焦照射到目標(biāo)上,由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案,經(jīng)過(guò)聚焦傳感器后由光學(xué)探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)。
硅片厚度測(cè)量?jī)xSIT-200產(chǎn)品特點(diǎn):
l 全光學(xué),非接觸硅片厚度測(cè)試
l 高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量粗糙表面
l 濕法刻蝕過(guò)程中實(shí)時(shí)測(cè)量
高靈敏度 高精度 快速測(cè)量 遠(yuǎn)程控制
結(jié)構(gòu)示意圖
SIT-200
產(chǎn)品參數(shù):
測(cè)量目標(biāo) | 硅片 |
測(cè)量厚度 | 10-500μm |
光源 | 1515-1585nm掃描 |
功率 | 0.6mw,Class1 |
指示光源 | 紅光,Class1M |
測(cè)量時(shí)間 | 20ms |
重復(fù)性 | 0.1μm |
輸出監(jiān)控 | 干擾信號(hào)(電學(xué)) |
PC接口 | 網(wǎng)口 |
供電 | 100-240V,50/60Hz |
尺寸 | 364 x 147 x 391mm |
重量 | 9kg |
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