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當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  激光調(diào)制與測(cè)量  >  單光子探測(cè)器  >  SPDSiSi單光子探測(cè)器

Si單光子探測(cè)器

簡要描述:Si單光子探測(cè)器是基于Si-APD的超靈敏光電探測(cè)器。探測(cè)波段覆蓋200 -1060 nm,可工作在線性模式和蓋革模式。蓋革模式下增益超過60 dB。

  • 產(chǎn)品型號(hào):SPDSi
  • 更新時(shí)間:2024-12-26
  • 訪  問  量:1253

產(chǎn)品簡介

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
組件類別其他應(yīng)用領(lǐng)域電子

詳細(xì)介紹

硅APD探測(cè)模塊 SPDSi

    上海屹持光電單光子計(jì)數(shù)模塊SPDSi是基于Si-APD的超靈敏光電探測(cè)器。探測(cè)波段覆蓋200 -1060 nm,可工作在線性模式和蓋革模式。蓋革模式下增益超過60 dBSPDSi*的高性能主動(dòng)抑制電路,可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)的單光子探測(cè),并且可加載任意寬度和周期的探測(cè)門。該電路實(shí)現(xiàn)了大于20 dB的雪崩抑制,從而將Si APD的性能發(fā)揮到優(yōu)秀狀態(tài)。在700 nm波段的探測(cè)效率超過60%,暗計(jì)數(shù)200-2000 cps,死時(shí)間小于50 ns。  

SPDSi標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)的有效光敏探測(cè)面積最高可達(dá)500 um,單光子計(jì)數(shù)信號(hào)在模塊內(nèi)部轉(zhuǎn)化為數(shù)字TTL信號(hào),并通過SMA接口送出。高度集成的模塊化設(shè)計(jì)便于OEM應(yīng)用和工業(yè)集成。  

APD通過模塊內(nèi)部制冷工作在-20 ℃的低溫環(huán)境下,以獲得優(yōu)秀的信噪比。制冷模塊由高效的TEC控制。控制精度可達(dá)±0.2 ℃。  



技術(shù)特點(diǎn):  

高探測(cè)效率:65%@700 nm;         500  um光敏面積;  

TTL數(shù)字信號(hào)輸出;                       低暗計(jì)數(shù);  

低后脈沖;                                   低時(shí)間抖動(dòng);  

應(yīng)用領(lǐng)域:  

熒光測(cè)量;                                   激光測(cè)距;  

量子通信;                                   光譜測(cè)量;                                          

光子關(guān)聯(lián);                                   自適應(yīng)光學(xué);  



 

               Fig1. 量子效率                                                                                    Fig2.  Si單光子探測(cè)器

Fig3.  Si單光子探測(cè)器結(jié)構(gòu)圖

 

產(chǎn)品參數(shù):

參數(shù)規(guī)格 參數(shù)

單位

供電電壓*1

22 -28

V

供電電流  

0.5

A

光譜響應(yīng)范圍  

200  ----1060

nm

探測(cè)效率

@200 nm

@700 nm

@850 nm

@1060 nm

 

2

65

45

3

%

暗計(jì)數(shù)  

200  -2000

cps

死時(shí)間  

50

ns

后脈沖  

3 - 8

%

時(shí)間抖動(dòng)  

300 -  500

ps

飽和計(jì)數(shù)率*2

10

Mcps

光敏面積  

500

um

APD制冷溫度  

-20

工作溫度  

-15 -  +50

輸出信號(hào)電平  

LVTTL


輸出信號(hào)脈寬  

530

ns

門脈沖輸入電平  

Disable=LVTTL low

Enable=LVTTL high

 

0-0.4

2 -3.3

V

產(chǎn)品說明

1.          不正確的電壓可能損壞模塊,應(yīng)保證接入電源不高于28V,并可提供足夠電流。

2.          APD屬于高靈敏光電探測(cè)器件,在雪崩狀態(tài)下應(yīng)控制輸入光信號(hào)強(qiáng)度,過高的光強(qiáng)可能損壞APD,這種損害可能降低APD的探測(cè)靈敏度,嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)斐啥O管擊穿。

3.          在特殊的應(yīng)用場(chǎng)景下,應(yīng)保證模塊的工作溫度不超過50  ℃,過高的溫度可能導(dǎo)致APD工作溫度上升,從而引起暗計(jì)數(shù)水平升高。

4.          SPDSi的默認(rèn)死時(shí)間為50ns。死時(shí)間設(shè)定會(huì)影響模塊的最大計(jì)數(shù)率,當(dāng)死時(shí)間設(shè)定在50ns時(shí),最大計(jì)數(shù)率為10Mcps,如您的應(yīng)用對(duì)死時(shí)間設(shè)定有特別要求,請(qǐng)?jiān)谟嗁彆r(shí)與我們聯(lián)系。

5.          同樣,輸出信號(hào)的脈寬也會(huì)影響最大計(jì)數(shù)率,典型脈寬為30 ns,如您的應(yīng)用對(duì)輸出信號(hào)有特別要求,請(qǐng)?jiān)谟嗁彆r(shí)與我們聯(lián)系。

6.          SPDSi支持空間和光纖接口接入。

單光子探測(cè)器選型


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